Memory BISR build-in self-repair
S
BISR简介
BISR是build-in self-test,是存储器内建的自测,可以在存储器的生命周期中任何时间进行测试与修复。很久之前,在BISR出现之前,使用外部的仪器,在memory出厂之前对memory进行测试。
本博客所有文章除特别声明外,均采用 CC BY-SA 4.0 协议 ,转载请注明出处!
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BISR是build-in self-test,是存储器内建的自测,可以在存储器的生命周期中任何时间进行测试与修复。很久之前,在BISR出现之前,使用外部的仪器,在memory出厂之前对memory进行测试。
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